影響涂層測厚儀測量的因素有哪些？
更新時間：2018-11-05 點(diǎn)擊次數(shù)：2052次
涂層測厚儀采用了磁性和渦流測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等） 及非磁性金屬體。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
影響涂層測厚儀測量的因素有哪些？
1、基體金屬磁性
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與試件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
2、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度測量就不受基體厚度的影響。
3、邊緣效應(yīng)
本儀器對試片表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
4、曲率
試件的曲率對測量有影響，這種影響總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。
5、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試片上取幾個位置校對儀器的零點(diǎn)；或用沒有腐蝕性的溶液除去基體金屬覆蓋層，在校對儀器的零點(diǎn)。
6、磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測量厚度的工作。
7、探頭壓力和位置
探頭置于試件上施加的壓力的大小會影響測量的讀數(shù)。因此本儀器探頭用彈簧保持一個基本恒定的壓力。在測量中，應(yīng)當(dāng)使探頭與試樣表面保持垂直。
8、讀數(shù)次數(shù)
通常儀器的每次讀數(shù)并不*相同。因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量。表面粗糙是更應(yīng)如此。
通常儀器的每次讀數(shù)并不*相同。因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量。表面粗糙是更應(yīng)如此。
